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查爾斯·西(Charles Sie)于1969年發(fā)表了相變存儲(chǔ)器(PRAM)論文，并進(jìn)行了演示

賣火柴的十一發(fā)表于 2020-06-11 16:45

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查爾斯·西(Charles Sie)在愛荷華州立大學(xué)發(fā)表了一篇論文，描述并演示了相變存儲(chǔ)器(PRAM)。盡管PRAM一直沒有商業(yè)化，但像三星這樣的公司仍在開發(fā)它。

查爾斯·西(Charles Sie)于1969年發(fā)表了相變存儲(chǔ)器(PRAM)論文，并進(jìn)行了演示

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相變存儲(chǔ)器的基本存儲(chǔ)原理是在器件單元上施加不同寬度和高度的電壓或電流脈沖信號(hào)，使相變材料發(fā)生物理相態(tài)的變化，即晶態(tài)（低阻態(tài)）和非晶態(tài) （高阻態(tài)）之間發(fā)生可逆相變互相轉(zhuǎn)換，從而實(shí)現(xiàn)信息的寫入（“１”）和擦除（“０”）操作。

相互轉(zhuǎn)換過程包含了晶態(tài)到非晶態(tài)的非晶化轉(zhuǎn)變以及非晶態(tài)到晶態(tài)的晶化轉(zhuǎn)變兩個(gè)過程，其中前者被稱為非晶化過程，后者被稱為晶化過程。然后依靠測(cè)量對(duì)比兩個(gè)物理相態(tài)間的電阻差異來實(shí)現(xiàn)信息的讀出，這種非破壞性的讀取過程，能夠確保準(zhǔn)確地讀出器件單元中已存儲(chǔ)的信息。

查爾斯·西(Charles Sie)于1969年發(fā)表了相變存儲(chǔ)器(PRAM)論文，并進(jìn)行了演示